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惠州市華高儀器設(shè)備有限公司
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郵箱：1932151337@qq.com
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一文解析X射線熒光鍍層測厚儀的工作原理
更新時(shí)間：2026-01-22 點(diǎn)擊次數(shù)：795次
X射線熒光鍍層測厚儀是一種常用于材料表面分析的非破壞性檢測設(shè)備，可用于測量各種金屬、合金、陶瓷和涂層材料的厚度及成分。其工作原理基于X射線與物質(zhì)的相互作用，下面將對其進(jìn)行詳細(xì)介紹。
X射線熒光鍍層測厚儀的工作原理：
對被測樣品發(fā)射一束一次X射線，樣品的原子吸收X射線的能量后被激發(fā)并釋放出二次X射線。每個(gè)化學(xué)元素會(huì)釋放出特定能量的X射線。通過測量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強(qiáng)度，X射線分析儀就能夠?qū)Ρ粶y材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析。
X射線熒光鍍層測厚儀的工作特點(diǎn)：
1、測量元素范圍：鈦Ti22---鈾U92；
2、測量5層(4層鍍層+底材層)鍍層，同時(shí)分析15種元素，自動(dòng)修正X射線重疊譜線；
3、測量精度高、穩(wěn)定性好，測量結(jié)果*確至μin；
4、快速無損測量，測量時(shí)間短，10秒內(nèi)得出測量結(jié)果；
5、可分析固體、溶液；定性、半定量和定量分析；
6、進(jìn)行貴金屬檢測，如Aukarat評價(jià)；
7、材料鑒別和分類檢測，材料和合金元素分析，元素光譜定性分析；
8、強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)、處理功能：平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對標(biāo)準(zhǔn)偏差、*大值、*小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、數(shù)據(jù)編號(hào)、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖，數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖；
9、結(jié)果輸出：直接打印或一鍵導(dǎo)出到PDF、Excel文件；報(bào)告包含數(shù)據(jù)、圖像、統(tǒng)計(jì)圖表、客戶信息等；
10、測量位置預(yù)覽功能；高分辨率彩色CCD樣品觀察系統(tǒng)，標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)放大倍數(shù)為30倍；
11、激光對焦和自動(dòng)對焦功能；單擊鼠標(biāo)，Z軸自動(dòng)掃描，鐳射聚焦。
總之，X射線熒光鍍層測厚儀利用了X射線與物質(zhì)的相互作用原理進(jìn)行非破壞性檢測。它可以用于測量各種金屬、合金、陶瓷和涂層材料的厚度及成分，并且在許多應(yīng)用領(lǐng)域中都具有廣泛的用途。
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